应材料与化学学院夏帆院长的邀请，武汉大学王胜教授来我校作学术交流报告。
报告题目：扫描探针显微技术：原理、功能及其在探测低维纳米材料中的应用
报告时间：12月24号下午两点
报告地点：未来城校区材化楼110报告厅
报告人简介：
王胜于2014年获中国科学技术大学理学学士学位，2020年获美国加州大学伯克利分校物理学博士学位，随后在美国洛斯阿拉莫斯国家实验室从事博士后研究。2021年加入武汉大学物理科学与技术学院任教授，并开展纳米光学课题组的建设。获得荣誉主要包括郭沫若奖学金，国家优秀自费留学生奖学金，以及美国洛斯阿拉莫斯国家实验室Director's Postdoc Fellow等。王博士主要研究方向是发展和结合多种前沿的先进光谱技术和扫描探针技术来表征和调控低维量子材料中一系列新奇的光学和电学特性以及探究光电特性与微观结构间的构效关系。
课题组主页： www.wangnanolab.com
报告摘要:
扫描探针显微技术能够在纳米尺度表征和操控不同环境下的各种物质，在凝聚态物理、材料工程、生物分析等领域都有重要应用。本次报告中，我将介绍各种不同的扫描探针显微技术的基本原理，包括纳米力学表征、纳米电学表征、纳米光学表征以及纳米电化学刻蚀。我将结合这些纳米表征技术在揭示低维纳米材料复杂的构效关系上，阐释其丰富多样的功能和适用范围。特别的，我将重点介绍前沿的先进纳米光学表征技术——扫描近场光学显微镜。该技术将光谱技术和原子力显微镜有效结合起来，实现了突破光学衍射极限的纳米尺度成像和光谱测量。我们使用扫描近场光学显微镜在金属性和半导体碳纳米管以及范德华异质结构中发现了非同寻常的量子特性表面等离体激元的响应，同常规金属纳米结构中的表面等离体激元形成鲜明对比。
材料与化学学院
纳米矿物材料及应用教育部工程研究中心
2021/12/10
