X射线粉晶衍射仪(XRD)

发布人:发表时间:2017-05-11点击:

1.仪器设备简介

【仪器名称】X射线衍射仪

【生产公司】德国Bruker AXS D8-Focus

【仪器型号】D8-FOCUS

【测试条件】CuKα射线,Ni滤波,40kV,40mA,LynxEye192位阵列探测器,扫描步长0.01°2θ,扫描速度每步0.05秒,λ=        1.540598A

【仪器价格】96.2万人民币


【功能】

1. 粉末物质物相定性分析

2. 粉末物质物相定量分析

3. 纳米物质晶粒大小测定

4. 晶格常数测定

Sample: corundum

测量条件:

u 40KV,40mA

u 4.00Soller slit

u Scanspeed 0.05 sec/step

u Increment 0.01

1光源:采用先进的陶瓷光管,具有质量好、寿命长、强度衰减小的特点。

2测角仪:D8系列测角仪采用大轴设计方案,稳定性好、精度高(角度重现性0.0001度)。步进马达+光学编码器确保测角仪快速准确定位,并能减少测角仪的磨损。

3 探测器:LynxEye林克斯一维阵列探测器

a) 由192个子探测器阵列组成,在相同条件下,与常规的闪烁计数器相比,强度增益高达150倍。

b)良好的低角度测量:LynxEye探测器克服了常规阵列探测器低角度性能欠佳的弱点。

c)具有很低的背景,动态范围很高,其192个子探测器每个子探测器的计数范围高达70万cps。

4杰出的低角度分析功能

a)最低角度可做到0.2

b)广角、小角互换无需对光;

c)适合介孔、层状材料、纳米材料。

5分析软件

EVA物相分析软件、TO PAS线形分析软件、Rietveld分析软件、PDF卡数据库。

2.测试项目

物相分析,薄膜物相,粉末物质物相定性分析、 粉末物质物相定量分析、 纳米物质晶粒大小测定、晶格常数测定、结晶度计算等。

3.送样要


l 样品的量:最好多于0.5克;

l 样品粉末粒级通过200-300目;

l 块状样样品小于1cm,表面平整;

l 液体及胶体样品无法检测。。

4.收费标准


一般样品测试为1,其他如6、7、8为特殊制样,不计入折扣。附则:

正常一个样品需7分钟,如果测试时间超过7分钟,则按时间收费

序号 分析项目 收费 标 准

1    各种矿物、材料的结晶物相鉴定                                 60元

2    一般样品半定量分析 ( 精度: 5-10%)                          200元

3    粘土矿物半定量分析                                          400元

4    薄膜物相分析                                                350元

5    小角衍射分析(晶粒大小测量 300nm 以下)                     600元

6    晶胞参数计算(不包括样品测量)                               30元

7    晶粒粒径计算                                                 40元

8    图谱标注(用符号表示不同的物相,不包括样品测量)             50元

9    结晶度计算                                                   40元

10   分散样品制样                                                100元