详细信息

透射电子显微镜(TEM)

1.仪器设备简介

型号Philips CM12 TEM/STEM

出厂日期19879

国别厂家:荷兰Philips

价格1487150.64

性能指标

加速电压:120KV

点分辨率:0.34nm

线分辨率:0.20nm

放大倍数:31×~ 820,000×

制样设备

Gatan 656型凹坑仪

Gatan 600型离子减薄仪

JEOL JEE-4 X型真空镀膜仪

主要附件

EDAX  PV9100  X射线能谱仪

Gatan 830CCD图像系统,可以拍摄数字化图像及电子衍射花样。

适用范围:可以对各种固体样品进行微区形貌、微区结构及微区成分分析研究。如超显微包体、出溶体等物相鉴定,晶胞参数、点群及空间群测定,晶体形态、粒度、界面及缺陷观察等。在材料科学、矿物学、岩石学、矿床学、构造地质学及生物医学等领域都有广泛的应用。

存放地点: 国家重点实验室大楼110

联系人:刘祥文,15327375231


2.测试项目


固体物质微区形貌、微区成分及选区电子衍射分析。


3.送样要求

(1)           粉末样品粒度最好在微米量级至纳米量级。

(2)           如果是预先分散好的样品,本实验室不对制样的质量负责,重复制样需要按次数收取制样费。相应的机时费也不能减免。

(3)           如果因为样品粒度太大导致测试无结果,需要收取制样费和1小时的起步机时费。

(4)           因为磁性粉末样品极容易被吸附到物镜极靴上,损害电镜的图像分辨率,所以原则上谢绝测试磁性粉末样品。对于少量确实急需测试的磁性粉末样品,需报请仪器负责人批准后方可测试,并按特殊标准收费。

(5)           磁性粉末样品不得冒充非磁性粉末样品进行测试,一旦发现将按磁性样品标准的2倍收取测试费。

(6)           送样人自己事先制备的“非磁性”透射电镜粉末样品,必要时需要加收分析确认费用(如X射线能谱分析及电子衍射物相分析费用)。

(7)           由于离子减薄制样费工费时,且制样成功率受多种因素影响,尤其是一些样品本身的因素,如硬度太大、太脆导致磨样、裁样及凹坑等过程中极易产生大量可见和不可见的裂纹,从而导致离子减薄制样失败,需要重新制备。失败样品的损失,送样人和本实验室各承担50%


4.收费标准


(1)       形貌观察:550/小时。不足1小时按1小时计费;超过1小时,按0.5小时递增收费;、粉末样额外收取50/样。

(2)       粉末样或纳米材料:300/样。每样30分钟以上,则按时间收费;如果只做一个样品,则需按时间收费。

(3)       磁性粉末样品:1000/样。限照相20张以内,且30分钟以内;30分钟以上按250/0.5小时加收机时费。

(4)       能谱成分分析:每点加收60元。

(5)       电子衍射拍照:每张加收80元。

(6)       粉末样品制备:50/样。

(7)       凹坑减薄:硬度£7的样品由标准厚度30mm凹坑至10mm80/样;硬度£7的非标准厚度样品:(1+(厚度-30)÷40)×80/样;硬度>7的非标准厚度样品:(1+(厚度-30)÷40)×(硬度-6)×80/样;原则上不接收厚度100mm以上的样品。

(8)       离子减薄:80/小时。

(9)       喷碳:200/次。

(10)   测试结果光盘刻录:10/张。

(11)   电子衍射图测量:50/张(单晶花样给出d1d2d3及其夹角;多晶花样给出各衍射环对应的晶面间距d

(12)   电子衍射指标化分析:面议。